Meets ACCRETECH New ZEISS METROTOM 1500 - 東京精密

ZEISS METROTOM 1500

新製品情報

もっと高画質に、もっと速く、そして信頼できる測定結果を。
さらなる進化を遂げたX線CTで高レベルの品質管理が可能になります。

ZEISS METROTOM 1500

今、最も先進的なX線CT

ZEISS METROTOMは、三次元座標測定機で培われた各軸の制御技術と超高精度位置決めステージ、高解像度フラットパネルデテクタ、ソフトウェアCALYPSO CTを採用するなど、これまでの観察用X線CTとは一線を画すDimensional X線CTです。構造解析、機能検査、欠陥解析等の非破壊検査に加え、樹脂成形部品やアルミダイカスト等、複雑な工業製品の内部形状の構造比較や内外寸法の高精度な計測まで、幅広く最適なソリューションを提案します。

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ZEISS METROTOM 1500

さらなる進化を遂げたMETROTOMで高レベルの品質管理が可能に

ZEISS METROTOMは、従来の接触式スタイラスや非接触式センサが到達できない箇所まで、1回のスキャンでワークの“完全な”体積データを、“非破壊で”取得することができます。部品の切断なしには計測できなかった微小な穴径や、狭小部もソフトウェア上でのプロービングが可能。もう部品切断の必要はなく、その分の工数を削減することができます。 3世代目となる新たなZEISS METROTOM 1500は、ハードウェアの設計を大幅に見直すことで、従来機と比較してより鮮明にかつより速くスキャン画像を得られるようになりました。今まで見落としていた内部欠陥の検出やより微細な形状のスピーディな非破壊計測を可能にする、今、最も先進的なX線CTです。さらなる進化を遂げたMETROTOMがプラスチックから金属までさまざまな部品の測定・検査における高レベルの品質管理を実現します。

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さらなる進化を遂げたMETROTOMで高レベルの品質管理が可能に

もっと高画質に

3Kディテクタの搭載により、ボクセルサイズが従来比で最大54%減少しました。このことによって、同倍率であっても高解像度でスキャンデータを取得することができます。今までよりも鮮明な画質を得られるようになったことで、内部の微小な形状の計測や今まで見落としていた内部欠陥の検出が可能となりました。

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もっと高画質に

もっと速く

ディテクタの複数のピクセルを結合させて1つのピクセルとみなすビニングモードを使用すれば、従来の2Kディテクタ同等の画質であれば、最大約4倍速くスキャンできます。つまり、2Kディテクタで約7分のスキャンが、3Kディテクタであれば2分以内で完了します。同じスキャン時間で多くの検査や測定を実施できます。

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もっと速く

そして信頼できる計測結果を

世界最高レベルの測定精度
MPESD of 4.5 + L/50 µm (VDI/VDE 2630 sheet 1.3準拠)
ZEISSが長年培ってきた計測の能力と知見を結集し、X線CTをトレーサビリティのとれた信頼性の高い計測手法へと進化しました。すべての測定範囲において測定精度が保証され、ワークの位置を変更してもスキャン毎の手動校正は不要です。

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そして信頼できる計測結果を
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