JIMTOF 2016

日程

2016年11月17日(木)〜2016年11月22日(火)

開催国

日本

開催会場名

出展ブース

光計測エリア

Opt-scope R

Opt-scope R

レボルバ機構や電動ステージを搭載し、本体部と架台部を一体化

Opt-scope S+

Opt-scope S+

非接触。高分解能。広範囲。“非接触”かつ“短時間”でワーク形状の面全体を三次元的に評価

Opt-measure

Opt-measure

高精度、広温度範囲、コンパクトなセンサヘッド。新光源・干渉法を用いた非接触変位センサ

三次元エリア

CONTURA aktiv

Contura_aktiv

アクティブスキャニングプローブ
VAST XT gold を標準搭載したaktivモデル

DuraMax RT

DuraMax RT

ロータリテーブルを搭載し、各種ギアやタービンブレード等の複雑なワークピースの測定と評価に最適な、小型三次元座標測定機

O-INSPECT 322

O-Inspect_322

ZEISSの工業用測定機部門の定評ある測定技術と顕微鏡部門の卓越した光学技術が融合したオールインワン測定機

O-SELECT

O-SELECT

優れた光学系を搭載し、オート照明・オートフォーカス機能、タッチパネル操作により、簡単かつ高精度測定を実現

粗さ・輪郭・真円度エリア

SURFCOM NEX 141DX

SURFCOM_NEX_141

粗さも、輪郭形状も、ハイブリッドも。新次元の拡張性をこの一台に凝縮

RONDCOM NEX Rs α

偏心・重量ワークに対応するNEXシリーズの最上位モデル

RONDCOM 73A

RONDCOM_73A

シリンダブロックやバルブボディ等、自動車の大型・重量部品の測定に最適。クラス最高精度の世界標準モデル

小型製品・ソフトウェアコーナー

SURFCOM FLEX

小型・軽量・プリンタ内蔵の現場向け モバイル型 表面粗さ測定機

RONDCOM TOUCH

現場での使い勝手と低価格を追求したエントリーモデルのスタンダード

自動化エリア

SURFCOM NEXやRONDCOM NEX等を組み合わせた自動化設備の展示

出展社ワークショップ

 近年、非接触測定のニーズが高まる中、弊社が新たに開発した白色干渉顕微鏡『Opt-scope』及び非接触変位センサ『Opt-measure』の最新技術と社会ニーズへの応用展開をご紹介いたします。

受講をご希望の方は、下記申込書に必要事項をご記入のうえ当社までFAXまたはメールにてお申込みください。
  • 開催日時
    2016年11月17日(木)午後1時00分~午後2時00分
  • 開催場所
    東京ビッグサイト 会議棟6 階 607 会議室
  • 参加人数
    最大120名
  • 参加費
    無料
  • タイトル
    最新非接触技術の応用展開
  • 講師
    OMIグループ 青戸 智浩
  • お問合わせ
    TEL: 029-831-1234(代)
    FAX:029-831-6676
    e-mail : techsales.metrology@accretech.jp

展示会公式サイト