JIMTOF 2018

日程

2018年11月1日(木)〜2018年11月6日(火)

開催国

日本

開催会場名

展示会公式サイト

出展ブース

出展予定機種一覧

RONDCOM CREST

新開発駆動・ガイド方式を採用し、世界最高レベルの超精度を実現

METROTOM

マイクロフォーカスX線により、非破壊で微小な内部欠陥を可視化できるX線CT装置

XYZAX AXCEL

高精度、高速、高耐環境性と多彩なプローブシステムを兼ね備えた三次元座標測定機のグローバルスタンダード

PRISMO

幅広い環境条件下で安定した高精度を実現する高速CNC三次元座標測定機

CONTURA Aktiv

測定力をコントロールできるアクティブスキャニングプローブを搭載した三次元座標測定機

O-INSPECT322

接触式と非接触式センサを備えたマルチセンサ測定機

O-SELECT

優れた光学系を搭載し、オート照明・オートフォーカス機能、タッチパネル操作により、簡単かつ高精度測定を実現

SURFCOM TOUCH 35/40/45/50

シンプルかつ簡単操作。使いやすさを徹底的に追求した小型タイプのグローバルスタンダード

SURFCOM TOUCH 550

電動コラムに対応したSURFCOM TOUCH シリーズ最上位モデル

SURFCOM NEX

用途に応じて検出器・駆動部・測定台を選択できる幅広い拡張性をもつ表面粗さ・輪郭形状統合測定機

Opt-scope R

非接触。高分解能。広範囲。“非接触”かつ“短時間”でワーク形状の面全体を三次元的に評価

Opt-scope CLW

インライン/オンマシンの測定にも対応可能なポータブル非接触3D 表面粗さ・形状測定機

RONDCOM NEX

重量物測定と高精度を完全に両立した新たなモデル

RONDCOM TOUCH

低価格と使い勝手を追求したエントリークラスの新スタンダード

無線ボアゲージ BG300

無線通信に対応したマシニングセンタでの機内測定が可能

ATC振れ検出システム

アルミ高速切削加工中の切粉の噛み込みを監視する、組み込み型・非接触センサ

ブース内出展エリア情報

初出展・新製品エリア

JIMTOF2018にて初披露となる新製品「METROTOM」と「RONDCOM CREST」を出展いたします。

自動化エリア(協働・省人化・高効率)

AIやIoT化に伴う市場ニーズへの対応として、省人化や高効率化をテーマとしたゾーンや産業用自動化をテーマにした展示をいたします。

プレゼンテーションエリア

特設コーナーにて、プレゼンテーションを実施いたします。

光計測エリア

高分解能を実現した非接触三次元表面粗さ・形状測定機を展示いたします。
展示機
・Opt-scope R
・Opt-scope CLW

三次元測定エリア

高精度三次元座標測定機を展示いたします。
展示機
・ZEISS PRISMO
・ZEISS CONTURA Aktiv

測定機器体験エリア

小型の表面粗さ測定機や画像測定機を実際に触れて体験することができます。
展示機
・SURFCOM TOUCH シリーズ
・RONDCOM TOUCH
・O-SELECT

自動計測エリア

工作機械に組み込むセンサーなどの自動計測機器を展示いたします。

出展者ワークショップ

世界最高クラスの回転精度を誇り、超精密部品の測定に特化した超高精度真円度・円筒形状測定機の仕様・技術をご紹介いたします。
受講をご希望の方は、下記申込書に必要事項をご記入のうえ、弊社までFAXもしくはメールにてお申込みください。

  • 開催日時
    2018年11月3日(土) 午後3時 ~ 午後4時
  • 開催場所
    東京ビッグサイト 会議棟6 階 605 会議室
     〒135-0063 東京都江東区有明3-11-1
     りんかい線 「国際展示場」駅下車  徒歩約7 分
     ゆりかもめ 「国際展示場正門」駅下車 徒歩約3 分
  • 定員
    最大120名
  • 参加費
    無料
  • タイトル
    超高精度フラッグシップモデル 真円度・円筒形状測定機のご紹介
  • 講師
    Surface & Form Group 森井 秀樹
  • お問合わせ
    TEL: 029-831-1234 (代)

■お申し込みはFAXもしくはメールにてお願いいたします。

 e-mail:techsales.metrology@accretech.jp
 FAX:029-831-6676